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半導體粉末電阻率測試儀

簡要描述:半導體粉末電阻率測試儀 本產品參照有關標準設計。于半導體粉末和固體的電阻率測量,直接數字顯示電阻或電阻率值,穩定可靠,價格低廉。配置粉末測試臺或四探針測試臺可以對粉末、片狀、塊狀材料及固態金屬測試,測量范圍:電阻率為10-2--105Ω·cm,分辯率為0.1mΩ·cm。

  • 產品型號:TC-FZ-2006
  • 廠商性質:其他
  • 更新時間:2024-05-07
  • 訪  問  量:519

詳細介紹

產地國產加工定制

半導體粉末電阻率測試儀  型號:TC-FZ-2006

一、產品用途:

本產品參照有關標準設計。于半導體粉末和固體的電阻率測量,直接數字顯示電阻或電阻率值,穩定可靠,價格低廉。配置粉末測試臺或四探針測試臺可以對粉末、片狀、塊狀材料及固態金屬測試,測量范圍:電阻率為10-2--105Ω·cm,分辯率為0.1mΩ·cm

儀器主主要包括電氣箱和測試架兩部分組成,電氣測試部分由高精度直流數字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感和加壓機構、粉末標準容器,壓力機構采用手動操作、壓力平穩。儀器有自校功能。儀器采用通用的電流、電壓降法,即四端子測量法,兩介電流和電壓電同時和樣品接觸,可以消除連接系統所帶來的誤差。克服二端測量粉末電阻率儀器的弊病,真實準確測量粉末樣品的電阻率,測量精度高,穩定性、重復性好。使用方便。

本儀器是檢驗和分析半導體固態和粉態樣品質量的重要工具,于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠等企業以及高等院校和科研部門。

 

二、主要技術指標

1.測量范圍:電阻10-2--105Ω,分辨率0.1

             電阻率10-2--105Ω·cm,分辨率0.1mΩ·cm

             測量誤差±(0.3%讀數+2字)。

2.測量電壓量程:20mV、200mV、2V,分辨率10μV

             測量誤差±(0.3%讀數+2字)。

3.測量電流:0--100mA連讀可調。

電流量程:10μA、100μA,1mA 、10mA、100mA

4.試樣粒度:標準篩網40目以下直至納米材料。

5.試樣容器:內腔Φ16.30±0.1mmΦ10±0.1mm。可選用

6.試樣高度:16mm±0.5mm, 10mm±0.5mm測量誤差±0.1mm

7.  取樣壓力::4Μpa±0.05Μpa(40kg/cm2±0.5kg/cm2

8.  顯示方式: 3 1/2 數量字顯示電阻、電阻率、壓力、單位、小數點。自動顯示。

9. 電源:22010%,50--60HZ,功率消耗<150W

10.外形:電氣箱,440mm×110mm×320mm

 

 

半導體粉末電阻率測試儀

 

 

 

產品名稱:數字示波器/數字示波儀
產品型號:DS1102E

數字示波器/數字示波儀型號:DS1102E

1. 混合信號示波器(MSO)配備16通道邏輯分析儀
(DS1000D)
2. 實時采樣率1 GSa/s, 存儲深度高達1 Mpts
3. 豐富的觸發功能:邊沿、視頻、脈寬、斜率、交替

4. 5.6英寸 64k色TFT LCD,清晰顯示波形
5. 緊湊的設計,節約實驗臺桌面空間
6. 集成USB Host & Device, 支持U盤存儲和PictBridge
打印機

設備型號

DS1102E

DS1052E

 

DS1102D

DS1052D

帶寬

100MHz

50MHz

通道數

2 通道+外觸發

實時采樣率

1GSa/s(單通道),500MSa/s(雙通道)

等效采樣率

25GSa/s

10GSa/s

上升時間

3.5ns

7ns

存儲深度

通道模式

采樣率

普通存儲

長存儲

單通道

1GSa/s

16kpts

N.A.

單通道

500Msa/s或更低

16kpts

1Mpts

雙通道

500Msa/s或更低

8kpts

512kpts

時基范圍

2 ns/div ~50s/div

5 ns/div ~50s/div

觸發方式

邊沿、視頻、脈寬、斜率、交替、碼型和持續時間(DS1000D)

垂直分辨率

8 bits

垂直靈敏度

2 mV/div ~10V/div

Z大輸入電壓

All Input 1MΩ||15pF 300Vrms Max CATI

滾動范圍

500ms/div ~50s/div

光標測量

手動模式、追蹤模式、自動測量

數學運算

+,-,×,FFT

內部存儲

10 組波形、10組設置

外部存儲

BMP、CSV、波形存儲、設置存儲

接口

USB Device,USB Host,RS-232, P/F Out

顯示

64 k色TFT彩色液晶屏,320×234分辨率

電源

AC: 100 ~ 240 VACRMS,45 ~ 440 Hz,CAT II,50 VA Z大值

MSO 邏輯分析儀

DS1102D

DS1052D

通道數

16 通道

采樣率

200MSa/s (每通道l)

存儲深度

512k pts (每通道l)

觸發方式

碼型和持續時間

門限電平

TTL=1.4V, CMOS=2.5V, ECL=-1.3V, USER=-8V ~ + 8V

 

 

 

 

 

產品名稱:差示掃描量熱儀
產品型號:DSCHP 停產

差示掃描量熱儀型號:DSCHP

DSCHP差示掃描量熱儀介紹: 
   材料的物理過程和化學反應會受到氣體壓力的影響,需要在一定壓力下進行DSC測試。 
     DSCHP差示掃描量熱儀是我公司推出的一款DSC,用于測量在一定壓力下材料內部熱轉變相關的溫度、熱流的關系。    

    應用范圍廣泛,應用于:氧化穩定性、聚合物固化反應、相轉變、熔融、黏合劑的交聯、氧化誘導期、模擬實際反應環境和特定氣氛下測量、測量與沸點有關的壓力等。 

DSCHP差示掃描量熱儀主要特點: 
1.特殊的爐體結構,確保下基線的穩定性和重復性 
2.安全防護系統,保障0-5MPa壓力范圍的安全性 
3.儀器采用雙向控制(主機控制、軟件控制),界面友好,操作簡便 


DSCHP差示掃描量熱儀技術參數: 
1. DSC量程:  0~±500mW 
2. 溫度范圍: 室溫~600℃   
3. 壓力范圍: 0~5MPa     
4. 升溫速率: 1~60℃/min 
5. 溫度分辨率: 0.1℃ 
6. 溫度波動: ±0.1℃ 
7. 溫度重復性: ±0.1℃ 
8. DSC噪聲: 0.01μW 
9. DSC解析度: 0.01μW 
10.DSC精確度: 0.1μW 
11.DSC靈敏度: 0.1μW 
12.控溫方式: 升溫、恒溫(全自動程序控制) 
13.曲線掃描: 升溫掃描 
14.顯示方式: 24bit色,7寸 LCD觸摸屏顯示 
15.數據接口: 標準USB接口 
16.參數標準:   配有標準物質(錫),用戶可自行校正溫度和熱焓

 

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