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電路板故障維修測試儀

更新時間:2013-10-14      點擊次數(shù):1615

產(chǎn)品名稱:電路板故障維修測試儀
產(chǎn)品型號:GT4040UXP-Ⅱ
 

新型的GT4040UXP-Ⅱ可在WIN98,WIN2000,WIN XP 等系統(tǒng)下工作,帶有USB接口,雙CPU工作,速度更快,效率更高。可測三端器件,另外有庫,西門子庫,可定量測試L,C,R參數(shù),,可對運算放大器,光耦,三端電源進行測試。


產(chǎn)品特點: 
在維修各種電子設(shè)備時,您是否常因圖紙資料不全而束手無策?您是否常因高昂的維
修費用而增添煩惱?

[GT]系列檢測儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用,全部智能化。它利
用電腦來彌補人工維修能力的不足,能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原
理的情況下,對各種類型的電路板進行ASA分析或ICT測試,在線檢測元器件好壞,迅速檢
測到電路板上故障元器件。簡捷經(jīng)濟地修好各種類型電路板。

產(chǎn)品特點:

◆先進的測試技術(shù),強大的驅(qū)動能力,任何故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡單的中文操作界面,不經(jīng)專業(yè)訓練,任何人均可成為維修專家
◆無需電路原理圖,不必知道器件型號,對任何電路板皆可快速維修
◆40×2路數(shù)字電路測試功能,備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫;
◆40×2(ASA)V/I,曲線分析測試功能
◆電路板測試存儲功能,被測板可與之比較
◆與進口同類儀器比較,性價比更優(yōu),操作更方便
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片,可為大中規(guī)模集成電路提供分析測試。
◆本功能亦可通過學習記錄,比較分析來測試。 

技術(shù)規(guī)格:
Windows界面可在WIN98,WIN2000,WIN XP 等系統(tǒng)下工作
雙CPU工作,速度更快,效率更高。
功能測試40×2通道
VI曲線測試40×2通道
雙測試夾VI曲線測試
網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電
EPROM/RAM在線讀取
模擬器件 VI曲線測試
總線隔離信號
中文維修筆記

一、序言
GT/ICT系列測試儀已推出近十年。一方面漸入人心,一方面用戶也有了更高的要求。我公司集多年不懈努力,成功研制出換代產(chǎn)品GT/ICT-Ⅱ系

列,把GT/ICT測試儀發(fā)展到了一個新的階段,能夠更好的滿足用戶的實際需求。
從測試技術(shù)方面來看,GT/ICT測試儀是“后驅(qū)動”、“器件模擬端口分析(ASA)”測試技術(shù)的簡單使用,而GT/ICT-Ⅱ系列是在跟隨這兩項技

術(shù)在上的發(fā)展,在總結(jié)了多年來的實際應(yīng)用經(jīng)驗的基礎(chǔ)上重新設(shè)計而成,因而有更好的測試效果;從產(chǎn)品的軟、硬件實現(xiàn)技術(shù)方面來

看,GT/ICT軟件脫胎于DOS系統(tǒng),主要由中小規(guī)模集成電路組成,而GT/ICT-Ⅱ系列*在Windows平臺上打造,大量采用了大規(guī)模EPLD、表面貼

裝器件等現(xiàn)代電路設(shè)計技術(shù),因而具有更友好的人-機界面,更高的技術(shù)指標和可靠性。 
全面提高技術(shù)水平的目的,是改進、擴充測試功能。為突出重點,先在本文中介紹對兩個Z常用的測試功能:“ASA(VI)曲線測試”、“數(shù)

字器件在線功能測試”的改進。(注意相同之處不再贅述,請參見GT/ICT測試儀的相關(guān)說明)。我們將在以后的文章中,介紹其它方面的改進


需要說明的是,市場上的GT/ICT系列測試儀有幾個版本,總體水平差別不大,僅軟件界面形式略有不同。本文主要以其中一種作為參照。

二、對ASA(VI)曲線測試的改進
2.1 大大擴展了故障覆蓋范圍
這里擴展范圍,是指GT/ICT測試儀不能測試,或測試效果不好,而GT/ICT-Ⅱ能夠測試,或測試效果有較大改進。
2.1.1 測試三端器件
GT/ICT測試儀不能全面檢測三端器件的好壞。GT/ICT-Ⅱ*解決了這個問題。
三端器件是指閘流管(可控硅)、MOS三管、電壓調(diào)節(jié)器等具有三個引出端,以及光藕、繼電器等可以等效成三個引出端的器件。下面以閘流

管(可控硅)為例,來說明GT/ICT-Ⅱ如何改進了對此類元件的測試。
用GT/ICT測試閘流管,當ASA(正弦)測試信號加在它的陽和陰之間時,控制端沒有信號,閘流管處于截止狀態(tài),所以從曲線上只能觀察到

截止狀態(tài)是否正常(兩之間是否短路、或有較大漏流),不能發(fā)現(xiàn)導通狀態(tài)是否正常。比如,會把陽和陰開路的故障誤判成截止狀態(tài)正

常。
GT/ICT-Ⅱ設(shè)計了一個脈沖信號,測試時加在閘流管的控制端,控制閘流管在ASA(正弦)測試信號期間出現(xiàn)導通、截止兩種狀態(tài),實現(xiàn)了對閘

流管進行全面的檢測。
例1:用GT/ICT-Ⅱ測出的*閘流管的曲線

圖中橫線是否足夠水平反映了截止狀態(tài)是否夠好、豎線是否足夠垂直反映了導通阻抗是否足夠小、豎線與縱軸的間距就是導通電壓的大小。

(GT/ICT測試儀只能測出一根水平線。)
測試不同的三端器件需要不同的控制方式——正弦波和脈沖的匹配(同步)形式。為了更好地滿足測試各種三端器件的不同要求,在GT/ICT-Ⅱ

上共設(shè)置了八種匹配方式——脈沖相對于正弦波的起始、結(jié)束位置及寬度、高度均可調(diào)整;支持單向觸發(fā)、雙向觸發(fā)。詳細情況請參見產(chǎn)品使

用說明。
2.1.2 自動曲線靈敏度調(diào)整
GT/ICT測試儀沒有ASA曲線對電路變化(故障)的自動靈敏度調(diào)整功能,有些本該能夠檢測出來的故障因此不能發(fā)現(xiàn)。
我們來比較下面三組電阻的ASA曲線。 

0.1K/0.15K 1K/1.5K 10K/15K
*組顯示了0.1K和0.15K電阻的VI曲線;第二組1K和1.5K;第三組10K和15K。盡管實際電路的相對變化大小*相同,但看上去中間兩條曲線

差別大,兩邊的要小得多。我們說,中間組的曲線靈敏度高,而兩邊組的靈敏度低。由于ASA測試是通過曲線位置差異大小來發(fā)現(xiàn)故障的,所以

,在故障測試中很可能只判斷中間組有問題。
可以證明,VI曲線的走向趨勢越接近45度,反映電路變化的靈敏程度越高;如果VI曲線是一個封閉圖形,曲線包圍的面積越大,靈敏度越高。
曲線的靈敏度與被測試點的特征和測試參數(shù)相關(guān)。依據(jù)具體的結(jié)點特征,調(diào)整測試參數(shù),從而得到較高靈敏度的曲線,叫做調(diào)整VI曲線(關(guān)于

電路故障的)靈敏度。
GT/ICT-Ⅱ新增加了自動曲線靈敏度調(diào)整功能。對于上面三種情況,在選中自動靈敏度調(diào)整后,測到的三組曲線都和中間組一樣。
2.1.3 測試大電容
GT/ICT只能測試Z大約兩、三百微法的電解電容的好壞。GT/ICT-Ⅱ把檢測范圍擴大到了兩萬微法以上。
排查電路板上容量較大的電解電容的漏電、容量變化導致的故障,是一件相當令人頭痛的事情。對維修測試來說,利用ASA曲線測試進行檢測可

能是的辦法。但是GT/ICT測試儀的測試范圍小,當容量到幾百微法以上時,本該是一個橢圓的電容ASA曲線就蛻化成了一根短路線(所包圍

的面積趨于零),根本無法判別出好壞。GT/ICT-Ⅱ加寬了測試儀的技術(shù)指標,對于高達兩萬多微法的電容,都能測出一個包圍了相當面積的橢

圓。
2.1.4 給同一器件的不同管腳設(shè)置不同的測試參數(shù)
GT/ICT沒有這個功能,導致對有的器件測試效果差,有的器件無法測試。
用GT/ICT測試儀測試一個有多個管腳的器件的曲線,所有管腳都只能使用同樣的測試參數(shù),所有管腳都要依次測試一遍。但實際檢測中,確實

存在不同管腳使用不同測試參數(shù),來保證測試效果,也存在個別管腳不允許測試的情況。
比如,集電開路器件7403的輸入是標準TTL電平,而輸出Z大耐壓可達32V,常用于驅(qū)動數(shù)碼管、繼電器等。測試這種器件,測試輸入、輸出

腳的信號幅度要分別設(shè)置:對輸入應(yīng)設(shè)在略大于5V;對于輸出應(yīng)設(shè)置在略大于負載電壓,小于32V之間(比如驅(qū)動12V數(shù)碼管時一般用15V),才

能達到全面檢測的目的。GT/ICT測試儀不能滿足這種使用要求。
還有,電路板上帶電池的存儲器里面有數(shù)據(jù),在它的電源端、片選端不能加任何測試信號,否則會導致數(shù)據(jù)丟失。GT/ICT測試儀不能測試這類

器件。
GT/ICT-Ⅱ測試儀考慮到了這些情況。允許分管腳設(shè)置測試參數(shù),也允許不做測試的管腳。
2.2 大大提高了測試可靠性
測試可靠性是指測試結(jié)果能真實反映實際情況,不會導致用戶誤判故障的能力。
2.2.1 曲線穩(wěn)定性問題
GT/ICT測試儀不能發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定曲線,會把好電路誤判為有故障。
即使電路**,也存在這樣的情況——在同一個管腳上,每次測到的曲線有明顯不同。這種情況叫做該處的曲線不穩(wěn)定。產(chǎn)生不穩(wěn)定

曲線的原因以及如何讓曲線穩(wěn)定下來的辦法請參見“電路在線維修測試儀上的ASA測試”。《設(shè)備管理與維修》2006.6,2006.7。但測試儀先

要能夠把不穩(wěn)定曲線識別出來,然后才談得到處理,否則就可能把好電路誤判為有故障。
GT/ICT-Ⅱ能夠把不穩(wěn)定曲線識別出來,并且能具體指示出哪一個管腳上的曲線不穩(wěn)定,這無疑有助于提高測試結(jié)果的可靠性。
2.2.2 接觸問題
使用測試夾學習ASA曲線的時候,器件管腳氧化、防銹涂層未打磨干凈、測試夾引腳磨損等原因,經(jīng)常造成夾子引腳與器件引腳接觸不上,結(jié)果

學習到了一條虛假的開路曲線;比較曲線時也有同樣問題。這種不可靠的曲線會導致誤判,所以在實際使用中,一旦發(fā)現(xiàn)開路曲線,都要再次

確認,比如打磨該引腳后重測。
問題在于使用測試夾測試時,一次測試要處理許多條曲線。曲線多了以后,往往不能在一屏上一起都顯示出來。象GT/ICT測試儀那樣,靠人工

從許多條曲線中確認有無開路曲線,得來回翻屏或滾屏,不但效率低,而且容易漏檢。
GT/ICT-Ⅱ設(shè)計了自動開路曲線偵測、提示功能。在一次測試到的所有曲線中,只要存在開路曲線,會給出多種提示信息。根據(jù)提示很容易找到

它在哪個管腳上,很難漏檢。
2.2.3 平均曲線
當測試大量的相同對象(比如一批同樣的電路板或相同器件)時,使用從哪個好的電路板或器件上學習到的曲線作為參照標準為呢?
使用GT/ICT-Ⅱ測試儀,可以先學習幾個好的電路板或器件,得到多個文件,然后利用平均曲線功能,把這些文件中的曲線自動求平均后,再自

動生成一個新的曲線文件,作為以后的測試比較標準。該功能通常用于建立高質(zhì)量的標準曲線庫。
2.3 大大提高了使用效率
2.3.1 迅速發(fā)現(xiàn)并找到異常曲線(開路、不穩(wěn)定、比較差)
用測試夾進行測試時,一次會提取、顯示出多條曲線。如何才能迅速判定這些曲線中是否有異常曲線(開路、不穩(wěn)定、差),并迅速找到異

常曲線呢?
使用GT/ICT,需要用戶把所有曲線逐一檢查一遍后進行判斷。不但效率,而且容易漏判。為此,GT/ICT-Ⅱ增加了新的顯示手段。
1.前面已經(jīng)說明,GT/ICT-Ⅱ能夠自動檢測異常曲線。在一次測試中哪怕只有一條異常曲線,先在屏幕上部顯著位置提示:有開路曲線或有

不穩(wěn)定曲線或比較差,以引起用戶注意; 
2.在學習曲線時,增加了按先異常、后正常排列方式,將異常管腳曲線排列在其它管腳曲線的前面; 
3.在曲線比較時,增加了按曲線誤差大小順序排列的方式,自動將誤差較大的曲線排在前面(由于比較時主要關(guān)心差曲線);
4.打開管腳列表窗口,直接提示在管腳號的旁邊。
2.3.2 測試曲線
一次測試了多條管腳曲線后,可能對某個管腳曲線有疑問,或不太滿意。比如,有異常曲線,要進行適當處理(比如對開路曲線,打磨該管腳

)后重測;或者想修改某條曲線的設(shè)置參數(shù)后,再重測該條曲線,觀察其變化。使用GT/ICT-Ⅱ,在做完處理后,你只要用鼠標雙擊某曲線,就

將僅僅測試這條曲線,其它曲線*不受影響。方便、快捷。
2.3.3 由管腳號查找曲線
當一次測試的曲線較多,一屏顯示不下時,要來回翻屏或滾屏才能查看某個管腳的曲線,影響效率。GT/ICT-Ⅱ增加了直接從管腳號查找曲線的

功能。只要在腳號列表窗口中雙擊某腳號,就自動把該管腳的曲線移到屏幕顯示區(qū),并用彩色框框起來。十分快捷。
2.3.4 聲音提示
雙探棒直接對照測試方式相當常用。用GT/ICT進行測試時,每測試一個引腳,要先低頭——把兩個探棒穩(wěn)定接觸在相應(yīng)被測管腳上,然后再抬

頭看屏幕——確認對照結(jié)果,一上一下,有人開玩笑稱為“雞啄米”。當處理的腳數(shù)多時,相當辛苦且影響效率。
GT/ICT-Ⅱ上設(shè)置了聲音提示。只要比較不差(這是大多數(shù)情況),計算機就發(fā)出“嗒嗒”的提示聲,類似于使用萬用表的BEEP擋,基本解決

了這個問題。
2.4 大大改善了人-機界面友好程度
2.4.1 三種曲線坐標
GT/ICT只在電壓(V)-電流坐標(I)上顯示器件的端口特征曲線,這也是通常把ASA測試叫做VI曲線測試的原因。但對有的測試結(jié)果,換一種坐標

可能更容易理解曲線所反映的電路問題。這就好比解析幾何中有直角坐標系、又有坐標系一樣。
GT/ICT-Ⅱ測試儀提供三種坐標:電壓(V)-電流(I)坐標、時間(T)-電壓(V)坐標和電壓(V)-電阻(R)坐標。下面給出*閘流管在兩種不同坐

標下的曲線。



電壓(V)-電流(I)坐標 時間(T)-電壓(V)坐標
注意右邊的曲線。在測試(正弦)信號的四分之一處,控制上的觸發(fā)信號使閘流管導通,曲線變成一段水平線。水平線距橫軸的距離就是閘

流管的飽和電壓。
2.4.2 在曲線上提示參數(shù)(Tooltips)
把鼠標光標放在曲線上,GT/ICT-Ⅱ利用Tooltips技術(shù)顯示出光標處的參數(shù)。十分方便。請參見上圖。
2.4.3 管腳命名
GT/ICT在管腳曲線上提示的管腳號只是阿拉伯數(shù),并且所有管腳只能按數(shù)字順序一維排列。這在有些時候為不方便。
比如,有的器件管腳是兩維排列的。橫著數(shù)是a、b、c……,豎著數(shù)是1、2、3……。b3表示位于第二列,第三行的管腳;有的電路板外引腳有

上百個,對有的特別引腳會有專門標識—常見的是標識它上面的信號名稱。如果只能用一維數(shù)字作為管腳名,查找起來為不便。
GT/ICT-Ⅱ既能夠自動對管腳按一維排列方式分配管腳序號,也允許用戶給管腳命名。序號和用戶命名同時提示在相應(yīng)曲線上。查找起來非常方

便。
2.4.4 自定義曲線顯示顏色
不同人對顏色有不同偏好。長期工作在不舒服的顏色下易于疲勞。GT/ICT-Ⅱ允許用戶修改曲線、坐標、字符、背景等的顏色設(shè)置。為自己營造

一個較為舒服的工作環(huán)境。

三、對數(shù)字器件在線功能測試的改進
數(shù)字器件在線功能測試,是指對電路板上的器件直接進行邏輯功能好壞的檢測。對這項功能的改進主要包括三個方面:
1.加強對測試條件的檢查能力;
2.加強用戶對測試過程的控制;
3.加強對被測試器件的在線工作環(huán)境的識別能力。
通過上述改進,有效提高了測試結(jié)果的準確性。

3.1對測試條件檢查能力的加強
3.1.1 接觸檢查
測試夾與被測器件接觸不好可能會造成錯誤測試結(jié)果。GT/ICT-Ⅱ在檢查到測試夾引腳對地電阻大于約1M歐時,會提示接觸不良(開路)。
不過提示開路不一定總有接觸問題。比如使用在線測試功能,測試處于離線狀態(tài)的CMOS器件時,由于這種器件的輸入阻抗很高,所有輸入腳都

會判成開路。
實用中如果測試失敗并且提示有開路狀態(tài),應(yīng)確認是否屬于正常情況。如果測試成功,一般可忽略。
3.1.2 電源電壓檢查
這項測試要求必須給被測電路板加電。TTL器件的標稱工作電壓是5V±5%。電源電壓不達標有可能導致器件工作不正常。GT/ICT-Ⅱ在測試前會

自動檢查器件上的電壓是否達標。當電源電壓*,將給出警告提示;
3.1.3 非法電平檢查
本測試儀僅支持5V的TTL、CMOS器件的測試。正常情況下器件所有管腳上的電平值總在大于0V,小于5V之間。但對一個有故障的電路板來說,什

么情況都有可能發(fā)生。GT/ICT-Ⅱ在測試時一旦檢測到器件上有過電壓區(qū)間20%的電平值,將立即給以提示。為了安全起見,不再繼續(xù)測試下

去。
3.2對用戶控制測試過程的加強
3.2.1 調(diào)整閾值電平
當TTL器件的輸出低于0.8V,說它輸出為低(電平);高于2.4V,說它輸出為高(電平)。這里的0.8V,2.4V就是TTL的低、高標準閾值電平。

大致上說,器件的高電平越高,低電平越低越好。GT/ICT的閾值電平是做死的,不能調(diào)整。GT/ICT-Ⅱ從硬件上進行了擴充,允許用戶修改閾值

電平。比如,允許設(shè)為0.5V,3.0V進行測試。
這是一項很有價值的改進。實用經(jīng)驗表明,使用在線維修測試儀測試一個真正好的TTL數(shù)字器件,它的高電平會遠高于標準高閾值2.4V,低電平

比標準低閾值0.8V低很多。究其原因,可能是在線維修測試儀的測試速度比器件的實際工作速度低很多,分布參數(shù)造成的負載輕很多;反之,

如果測試到一個器件的高、低電平很接近標準閾值,這往往表示該器件的驅(qū)動能力已明顯下降,雖然能通過測試,但不能保證上機正常工作,

換掉。
3.2.2 修改測試頻率
GT/ICT-Ⅱ的測試頻率分4檔可選:45Ktv/S,20Ktv/S,5Ktv/S,1 Ktv/S(Ktv/S=千條測試向量/每秒)。缺省值為20Ktv/S。實際測試時,可根

據(jù)具體情況選用。比如74HC類低功耗器件,測試失敗后可降低速度再試一次。
3.2.3 加電延遲時間
在進行測試時,GT/ICT-Ⅱ自動控制給電路板加電——測試一個器件的瞬間接通電源,測試完成后關(guān)斷。這樣的好處是避免用戶誤操作損壞電路

扳,帶來的問題是由于電路板上一般有較大電源濾波電容,加電后,電路板上的電源電壓是逐步上升的,需要延遲一段時間后才能達到預期值

。不同大小的電路板需要的延遲時間不同。所以GT/ICT-Ⅱ允許用戶設(shè)定接通電源延遲多長時間后開始測試。
3.3對器件在線工作環(huán)境識別能力的加強 
測試電路板上的器件時必須使用適當?shù)母綦x技術(shù)來消除關(guān)聯(lián)器件對被測試器件的影響。后驅(qū)動隔離技術(shù)專門用于數(shù)字器件的在線測試隔離。
后驅(qū)動技術(shù)有一定的使用條件,不滿足這些條件就會由于隔離不成功而測試失敗,把好器件測成壞器件。對在線器件工作環(huán)境的識別,就是盡

量把影響后驅(qū)動技術(shù)正確使用的情況檢查出來,避免誤判。
3.3.1后驅(qū)動技術(shù)原理及應(yīng)用中的問題
后驅(qū)動技術(shù)是美國人在上世紀60年代發(fā)明的。可簡單說明如下:
電路結(jié)點一般由器件的一個輸出和若干個輸入組成。參見圖一。設(shè)測試U3,就要在U3各輸入腳所在的電路結(jié)點上施加測試信號。由于決定結(jié)點

電位的是器件輸出而不是輸入,參見圖中的X結(jié)點,在該結(jié)點上加信號實質(zhì)上是如何驅(qū)動U1的、與X引腳關(guān)聯(lián)的輸出,使它能夠根據(jù)測試要求為

高或為低。U3的輸出可以直接取回來。
假定X結(jié)點當前狀態(tài)為低電平,怎樣把它驅(qū)動至高電平呢?參見圖二給出的TTL器件的典型輸出結(jié)構(gòu)。


輸出低電平時,Q1截止,Q2飽合,這個低電平就是Q2的飽合壓降,約在0.3V以下。Q2的飽和條件為:β2*Ib2>>Ic2。通過測試儀給Q2的集電

注入一個足夠大的電流,使Ic2變得很大,Q2脫離飽合,它的輸出就會升起來。問題在于Q2上的功耗:P=Ic2*Vce2 會隨Ic2、Vce2的增加迅速增

加到P > Pcm(Z大額定功耗)。這是否會損壞Q2呢?后驅(qū)動技術(shù)證明,只要驅(qū)動時間不過26毫秒,不會有問題。在發(fā)達,滿足這個時間

要求的在線測試儀器允許用于軍方設(shè)備。
對于輸出為高而要驅(qū)動為低的情況,分析方法相同,只是把向Q2集電灌電流改為從Q1發(fā)射拉電流。
從以上對后驅(qū)動技術(shù)的說明可以看出:
1.后驅(qū)動技術(shù)用于隔離數(shù)字器件之間的關(guān)聯(lián)對測試的影響;
2.假定一個電路結(jié)點由一個輸出多個輸入組成;
3.被測試器件上不能有其它邏輯信號;
4.不能處理異步時序電路。
然而在實際電路板上,確實存在著數(shù)字器件和非數(shù)字器件關(guān)聯(lián)(比如數(shù)字器件輸出驅(qū)動晶體管基、運放驅(qū)動數(shù)字器件輸入)、一個電路結(jié)點

上有不止一個數(shù)字器件輸出(比如數(shù)據(jù)總線)、被測器件上有其它邏輯信號(比如板上有晶振)等等。這些情況經(jīng)常會影響后驅(qū)動技術(shù)的正確

使用(一般稱作隔離不開),會導致不正確的測試結(jié)果。
3.3.2 對和非數(shù)字器件相關(guān)聯(lián)的處理
這種情況造成隔離失敗的原因,主要是結(jié)點電位被非數(shù)字器件鉗死,或者驅(qū)動信號被非數(shù)字器件吸收,加不上去(也相當于電平被鉗位)。下

圖中給出了兩種常見的結(jié)構(gòu)。

GT/ICT-Ⅱ能把這些情況識別出來,以管腳狀態(tài)的形式提示給用戶,當器件測試失敗后,供用戶進一步分析。GT/ICT-Ⅱ能夠識別出6種與此相關(guān)

的管腳狀態(tài):
電 源:恒高且為電源腳;
恒 高:不可驅(qū)動至低于高閾值;
不可高:不可驅(qū)動至高于高閾值;
不可低:不可驅(qū)動至低于低閾值;
恒 低:不可驅(qū)動至高于低閾值;
地 :恒低且為地腳。
3.3.3 對多輸出結(jié)點的處理
對多輸出結(jié)點通常要用總線競爭屏蔽信號(GUARD信號)去解除非被測試器件的輸出對被測器件輸出的影響。有的版本的GT/ICT測試儀沒有

GUARD信號、有的版本只有1、2個GUARD信號—-這在許多情況下不夠用;有的版本的GUARD信號不可控,僅是通過一個小電阻接到電源上——這

不符合后驅(qū)動技術(shù)的要求,會損壞被屏蔽器件。(詳細說明請參閱有關(guān)文章)
GT/ICT-Ⅱ設(shè)置了8個*后驅(qū)動技術(shù)的要求GUARD信號,并且用戶可控。
3.3.4 對板上有邏輯信號的處理
電路板上的邏輯信號可能干擾正確測試。GT/ICT-Ⅱ在測試前會進行檢查。如果在被測器件的管腳上發(fā)現(xiàn)有邏輯信號,會作為一種管腳狀態(tài)“有

翻轉(zhuǎn)”提示出來。由于這種情況可能影響、也可能不影響測試結(jié)果,所以當測試成功后,可忽略;當測試失敗時,才需要用戶處理。
3.3.5輸入浮動
管腳狀態(tài)“輸入浮動”一般情況下是該管腳懸空。除非該管腳直接與電路板的插腳相連,否則意味著該腳斷線。盡管這并不影響對該器件的測

試,但它反映了電路板上一個可能的故障,所以也作為一種管腳狀態(tài)提示出來。
3.4 提高測試準確性的一般方法
從以上討論可以看出,受測試條件、器件工作環(huán)境的影響,在線測試的結(jié)果有一定的不確定性。從進口測試儀產(chǎn)品來看,主要通過兩種辦法來

提高測試的準確性:
1.加強對影響測試結(jié)果的外部因素的識別能力。在測試儀產(chǎn)品上的具體體現(xiàn),就是的測試儀能識別的管腳狀態(tài)種類多,低檔的能識別的狀

態(tài)少。比如某進口測試儀能識別約15種、GT/ICT-Ⅱ能識別約11種、GT/ICT大約僅4、5種。
2.由于在線測試的不確定性,把整個測試過程盡量詳細的顯示出來,供用戶結(jié)合測試結(jié)果進行進一步分析,這幾乎可以說是在線測試的基本設(shè)

計原則之一。GT/ICT-Ⅱ比較好的貫徹了這個原則。遺憾的是某些國產(chǎn)測試儀的設(shè)計者沒有真正理解這一點,有些測試功能僅給出“測試通過”

、或“測試失敗”的提示,測試過程幾乎沒有提示。

四、結(jié)語
電路在線維修測試儀所依據(jù)的技術(shù)原理并不復雜,但是依據(jù)同樣這些技術(shù)做出的測試儀產(chǎn)品卻是千差萬別,而且許多差別,是在你比較深入的

了解了這項技術(shù),有了相當?shù)氖褂媒?jīng)歷后才能體會得到。希望本文能對進一步了解這種產(chǎn)品提供幫助。
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